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芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電工電子電器機(jī)械等零組件、自動化零部件、國防工業(yè)行業(yè)、航空航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學(xué)材料、五金塑膠、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對冷、熱溫的快速反復(fù)抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時所出現(xiàn)的化學(xué)變化或者物理傷害。

鋰離子電池高低沖擊試驗(yàn)箱，也被稱為高低溫沖擊試驗(yàn)箱或冷熱沖擊試驗(yàn)箱，是一種用于測試鋰離子電池在溫度環(huán)境下的性能和可靠性的設(shè)備。該設(shè)備通過加熱及制冷系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)箱體內(nèi)的環(huán)境溫度的控制及變化，模擬產(chǎn)品所需環(huán)境溫度及交變程序，從而測試鋰離子電池在快速溫度變化下的性能表現(xiàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空、航天、軍工等領(lǐng)域。在電子產(chǎn)品領(lǐng)域，它主要用于測試電子元器件、集成電路、電路板等產(chǎn)品在溫度環(huán)境下的性能表現(xiàn)，以確保產(chǎn)品在實(shí)際使用中能夠穩(wěn)定可靠地工作。

電路板冷熱沖擊箱是一種用于測試電子產(chǎn)品、線路板、電路板等在溫度條件下的性能和穩(wěn)定性的設(shè)備。它通過模擬實(shí)際使用環(huán)境中可能遇到的溫度變化，將樣品置于高溫和低溫的環(huán)境中交替進(jìn)行冷熱沖擊測試，以評估被測試物料的耐熱性、耐寒性、熱穩(wěn)定性等。

兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱，也稱為雙箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，是一種用于模擬產(chǎn)品在溫度條件下快速轉(zhuǎn)換的環(huán)境測試設(shè)備。這種設(shè)備主要由兩個獨(dú)立的箱體組成：一個高溫箱和一個低溫箱，以及一個能夠快速轉(zhuǎn)移樣品的轉(zhuǎn)移室（或稱為測試區(qū)、中間室）。通過這種設(shè)計，試驗(yàn)箱能夠?qū)崿F(xiàn)在高溫與低溫之間迅速切換，以模擬產(chǎn)品在溫度變化下的工作環(huán)境，從而評估產(chǎn)品的耐候性、可靠性及穩(wěn)定性。

溫度沖擊試驗(yàn)箱GJB 150.5是指遵循中華人民共和國國家**標(biāo)準(zhǔn)GJB 150.5（或其后續(xù)版本如GJB 150.5A-2009）進(jìn)行溫度沖擊試驗(yàn)的設(shè)備。這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了**設(shè)備在溫度急劇變化環(huán)境下的試驗(yàn)方法，旨在評估設(shè)備在溫度條件下的適應(yīng)性和可靠性。